１１月２５日（日）のCAD/CAMミーティングで行う講演（「インプラント周囲炎の対処法」）に向け、資料づくりに追われています。
インプラントの表面に付着した汚れを除去する方法はいろいろありますが、現在当院では主にβ‐TCPのAir Abrasionを行っています。その治療を行った後、汚れたインプラントの表面がどのくらいきれいな状態に戻ったかを様々な方法で調べているところです。
私は日常的にXiveインプラントを使用していますが、最近たまたま、他院で埋入したXiveインプラントで撤去したものを入手することができました。
これを使い、研究所に私も一緒に行って、EDSとEPMAという２種類の方法で分析を行いました。これらは共に試料（インプラントの表面）に電子線を照射し、照射された部分から発生する二次電子、反射電子、特性X線などから試料の表面に含まれる元素を調べる装置です。
今回訪れたのは、IHIの関連会社であるIICという研究所です。高度な技術の下で本格的な分析が行われ、元素レベルの詳しい検査結果を得ることができました。
お世話になったのは、このお二人です。
特に中央に写っている方が今回の分析に協力して下さり、非常に良い研究ができたと思います。
臨床だけではなく、このような研究も行っています。その内容は、１１月２５日のCAD/CAMミーティングで報告できると思います。